Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J.
Originální název
Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM
Anglický název
A possibilities of metrics testing of STM and AFM
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
Anglický abstrakt
Klíčová slova v angličtině
STM, AFM
Autoři
Vydáno
27.09.2000
Nakladatel
FÚ AVČR
Místo
Praha
Kniha
2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách
Strany od
65
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT4045, author="František {Matějka} and Filip {Lopour} and Jiřina {Matějková}", title="Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM", booktitle="2. seminář o rastrovací tunelovací mikroskopii a příbuzných technikách", year="2000", pages="4", publisher="FÚ AVČR", address="Praha" }