Detail publikačního výsledku

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P.

Originální název

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

Anglický název

Scanning near field optical local spectroscopy

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.

Anglický abstrakt

Using of Scanning optical near-field microscopy for the investigation of local spectroscopic chareacterists of semiconductor interfaces is described.

Klíčová slova

Rastrovací mikroskopie, optické blízké pole, spektroskopie, lokální měření

Klíčová slova v angličtině

Scanning microscopy, optical near-field, spectroscopy, local measurement

Autoři

LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P.

Vydáno

17.09.1998

ISSN

1210-2717

Periodikum

Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics

Svazek

5

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

215

Strany do

217

Strany počet

3

BibTex

@article{BUT39014,
  author="Petr {Létal} and Jitka {Brüstlová} and Pavel {Dobis} and Lubomír {Grmela} and Pavel {Tománek}",
  title="Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli",
  journal="Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics",
  year="1998",
  volume="5",
  number="3",
  pages="215--217",
  issn="1210-2717"
}