Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
ŠKARVADA, P.; MACKŮ, R.; KOKTAVÝ, P.; RAŠKA, M.
Originální název
Noise of Reverse Biased Solar Cells
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
The non-destructive testing and analysis of single crystal silicon solar cell is the focal point of our research. The noise spectroscopy and I-V curve measurement of reverse biased pn junction provide information that is connected with solar cell reliability and that provide for not only local defect characterization. We propose a new electric solar cell model, as a base for an enhanced noise model, which is in accordance with the experimentally obtained I-V curves. We suggest the physical nature of an unconventional behavior in reverse I-V characteristics, which is typical for solar cells without apparent local avalanche breakdowns.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Solar cell, pn junction, noise
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2010
Vydáno
14.06.2009
Nakladatel
American Institute of Physics
Místo
U.S.A.
ISBN
978-0-7354-0665-0
Kniha
Noise and Fluctuations ICNF2009
ISSN
0094-243X
Periodikum
AIP conference proceedings
Svazek
1129
Číslo
1
Stát
Spojené státy americké
Strany od
391
Strany do
394
Strany počet
4
BibTex
@inproceedings{BUT35487, author="Pavel {Škarvada} and Robert {Macků} and Pavel {Koktavý} and Michal {Raška}", title="Noise of Reverse Biased Solar Cells", booktitle="Noise and Fluctuations ICNF2009", year="2009", journal="AIP conference proceedings", volume="1129", number="1", pages="391--394", publisher="American Institute of Physics", address="U.S.A.", isbn="978-0-7354-0665-0", issn="0094-243X" }