Funkční vzorek testovací lavice pro vysokorychlostní detekci směru odraženého světla

Functional sample of testing bench for high-speed sensing of the direction of reflected light

Funkční vzorek

Testovací lavice využívá DMD čip jako vysokorychlostní skener. Postupným promítáním série binárních masek tak postupně odráží části dopadajícího svazku. Jednotlivé části odraženého svazku reprezentují paprsek odražený od daného místa DMD čipu. Tento paprsek je fokusován čočkou na CMOS kameru. Z polohy dopadu lze spočítat úhel odraženého paprsku. Takto získané úhly reprezentují tvar vlnoplochy svazku po průchodu měřenou optickou soustavou.

The test bench uses a DMD chip as a high-speed scanner. By gradually projecting a series of binary masks, it gradually reflects parts of the incident beam. The individual parts of the reflected beam represent the ray reflected from a given location of the DMD chip. This ray is focused by a lens on a CMOS camera. The angle of the reflected ray can be calculated from the position of the impact. The angles thus obtained represent the waveform shape of the beam after passing through the measured optical system.

DMD chip, high speed scanner, wavefront, detection, numerical reconstruction

DMD chip, high speed scanner, wavefront, detection, numerical reconstruction

Fakulta strojnÍho inženýrství, Ustav fyzikálního inženýrství, Technická 2896/2, budova A2

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence