Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
IBRAHIM, A., CHOBOLA, Z.
Originální název
Temperature dependence of 1/f noise and transport characteristics as a nondestructive testing of monocrystalline silicon solar cells
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
Anglický abstrakt
Klíčová slova v angličtině
Temperature dependence
Autoři
Vydáno
15.10.2000
Nakladatel
University of Tochnology
Místo
Roma
Kniha
Proceedings of 15th World Conference on Non-Destructive Testing
Strany od
231
Strany počet
5
BibTex
@inproceedings{BUT10619, author="Ali {Ibrahim} and Zdeněk {Chobola}", title="Temperature dependence of 1/f noise and transport characteristics as a nondestructive testing of monocrystalline silicon solar cells", booktitle="Proceedings of 15th World Conference on Non-Destructive Testing", year="2000", pages="5", publisher="University of Tochnology", address="Roma" }