Předmětem projektu je výzkum degradace vnitřních komponentů napájecího zdroje 200 kV pro elektronové mikroskopy. Byla provedena analýza vlivu opakovaného zkratu výstupních svorek napájecího zdroje na výstupní rezistor a zpětnovazební komponenty zdroje, které jsou uloženy v izolační atmosféře hexafluoridu sírového. Výsledkem je protokol o provedených zkouškách a zhodnocení odolnosti testovaných komponent. Výhradním vlastníkem výsledku je objednatel.

Popis anglicky
The project is the research of degradation of internal components 200 kV power supply for electron microscopes. An analysis was made of the influence of repeated short circuit the output terminals of the power supply to the output resistor and feedback components of resources that are stored in the insulating atmosphere hexafluoridu sulphur hexafluoride. The result is a protocol about the testing carried out and the evaluation of the resistance of the test components. The sole owner of the result is the customer.

Klíčová slova
Elektrická pevnost v SF6, zkratová odolnost vysokonapěťového zdroje

Klíčová slova anglicky
Electric strength in SF6, short-circuit resistance high voltage source