Detail konference

Seminář UPSY - Hamdioui, S.: Design and Test of ICs in 32nm and Below: Do we need to worry? (TU Delft)

Seznam událostí

Místo konání

FIT VUT v Brně

Typ akce

seminář

Druh akce

interní

Termín konání

24.10.2012

Naposledy změnil