Detail publikačního výsledku

Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM

JIRÁK, J.; ČUDEK, P.; NEDĚLA, V.

Originální název

Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM

Anglický název

Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

This article deals with scintillation secondary electron detrector for variable pressure scanning electron microscope

Anglický abstrakt

This article deals with scintillation secondary electron detrector for variable pressure scanning electron microscope

Klíčová slova

Variable pressure scanning electron microscope, secondary electron, scintillation detector

Klíčová slova v angličtině

Variable pressure scanning electron microscope, secondary electron, scintillation detector

Autoři

JIRÁK, J.; ČUDEK, P.; NEDĚLA, V.

Rok RIV

2012

Vydáno

07.08.2011

ISSN

1431-9276

Periodikum

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS

Svazek

2

Číslo

17

Stát

Spojené státy americké

Strany od

922

Strany do

923

Strany počet

2

BibTex

@article{BUT73821,
  author="Josef {Jirák} and Pavel {Čudek} and Vilém {Neděla}",
  title="Detection of secondary electrons by scintillation detector at VP SEM",
  journal="MICROSCOPY AND MICROANALYSIS",
  year="2011",
  volume="2",
  number="17",
  pages="922--923",
  issn="1431-9276"
}