Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
KLENOVSKÝ, P.; ZŮDA, J.; KLAPETEK, P.; HUMLÍČEK, J.
Originální název
Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon
Anglický název
Druh
Článek WoS
Originální abstrakt
We have investigated surface layers on a monocrystalline float-zone, n-type (2400–2990 cm) spherewith the diameter of 93.6004 mm. Ellipsometric spectra in the visible–ultraviolet range reveals the presence of thin layers of amorphous Si as well as oxide overlayer. We have also prepared a series of flat Si samples, polished using slurries with 1–6 m grits; the overlayers were examined by mid–infrared ellipsometry, including the range of polar vibrations of the Si-O bonds. AFM measurements on the sphere were used to test the models of its surface.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Silicon Surface layers; Ellipsometry; 1-kg mass standard
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2018
Vydáno
01.11.2017
ISSN
0169-4332
Periodikum
APPLIED SURFACE SCIENCE
Svazek
421
Číslo
1
Stát
Nizozemsko
Strany od
542
Strany do
546
Strany počet
5
BibTex
@article{BUT134544, author="Petr {Klenovský} and Jaroslav {Zůda} and Petr {Klapetek} and Josef {Humlíček}", title="Ellipsometry of surface layers on a 1-kg sphere from natural silicon", journal="APPLIED SURFACE SCIENCE", year="2017", volume="421", number="1", pages="542--546", doi="10.1016/j.apsusc.2016.08.135", issn="0169-4332" }