Detail publikačního výsledku

Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu

KOKTAVÝ, P., KOKTAVÝ, B.

Originální název

Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu

Anglický název

Non-destructive Diagnostics of Semiconductor pn Junction by means of Impulse Noise

Druh

Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus

Originální abstrakt

V předložené práci je diskutována možnost využití impulzního šumu pro nedestruktivní diagnostiku polovodičových součástek s PN přechody. Ukazuje se, že tato metoda je vhodná pro hodnocení kvality PN přechodu.

Anglický abstrakt

Presented paper discuss the possibility of using of the impulse noise for non-destructive diagnostics of semiconductor devices with PN junctions.

Klíčová slova

PN junction, microplasma noise, local avalanche breakdowns

Klíčová slova v angličtině

PN junction, microplasma noise, local avalanche breakdowns

Autoři

KOKTAVÝ, P., KOKTAVÝ, B.

Vydáno

01.01.2004

Nakladatel

Brno University of Technology

Místo

Brno

ISBN

80-7204-371-4

Kniha

Workshop NDT 2004

Strany od

84

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT12164,
  author="Pavel {Koktavý} and Bohumil {Koktavý}",
  title="Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu",
  booktitle="Workshop NDT 2004",
  year="2004",
  pages="6",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="80-7204-371-4"
}