Publication result detail

Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu

KOKTAVÝ, P., KOKTAVÝ, B.

Original Title

Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu

English Title

Non-destructive Diagnostics of Semiconductor pn Junction by means of Impulse Noise

Type

Paper in proceedings (conference paper)

Original Abstract

V předložené práci je diskutována možnost využití impulzního šumu pro nedestruktivní diagnostiku polovodičových součástek s PN přechody. Ukazuje se, že tato metoda je vhodná pro hodnocení kvality PN přechodu.

English abstract

Presented paper discuss the possibility of using of the impulse noise for non-destructive diagnostics of semiconductor devices with PN junctions.

Keywords

PN junction, microplasma noise, local avalanche breakdowns

Key words in English

PN junction, microplasma noise, local avalanche breakdowns

Authors

KOKTAVÝ, P., KOKTAVÝ, B.

Released

01.01.2004

Publisher

Brno University of Technology

Location

Brno

ISBN

80-7204-371-4

Book

Workshop NDT 2004

Pages from

84

Pages count

6

BibTex

@inproceedings{BUT12164,
  author="Pavel {Koktavý} and Bohumil {Koktavý}",
  title="Nedestruktivní diagnostika polovodičových PN přechodů pomocí impulzního šumu",
  booktitle="Workshop NDT 2004",
  year="2004",
  pages="6",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="80-7204-371-4"
}