Detail publikačního výsledku

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

MOJROVÁ, B.; BAŘINKOVÁ, P.; BOUŠEK, J.; HÉGR, O.; BAŘINKA, R.; HOFMAN, J.

Originální název

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

Anglický název

Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production

Druh

Článek recenzovaný mimo WoS a Scopus

Originální abstrakt

This article deals with implementation of SPM techniques (AFM and KPFM) to the characterization of crystalline silicon solar cells.

Anglický abstrakt

This article deals with implementation of SPM techniques (AFM and KPFM) to the characterization of crystalline silicon solar cells.

Klíčová slova

atomic force microscopy, solar cell, texture, roughness, Kelvin probe force microscopy, back surface field

Klíčová slova v angličtině

atomic force microscopy, solar cell, texture, roughness, Kelvin probe force microscopy, back surface field

Autoři

MOJROVÁ, B.; BAŘINKOVÁ, P.; BOUŠEK, J.; HÉGR, O.; BAŘINKA, R.; HOFMAN, J.

Vydáno

05.12.2014

Nakladatel

ElectroScope

Místo

Plzeň

ISSN

1802-4564

Periodikum

ElectroScope

Svazek

2014

Číslo

3

Stát

Česká republika

Strany od

1

Strany do

6

Strany počet

6

URL

http://www.electroscope.zcu.cz

BibTex

@article{BUT111341,
  author="Barbora {Mojrová} and Pavlína {Bařinková} and Jaroslav {Boušek} and Ondřej {Hégr} and Radim {Bařinka} and Jiří {Hofman}",
  title="Scanning Probe Microscopy in Technology of Solar Cells Production",
  journal="ElectroScope",
  year="2014",
  volume="2014",
  number="3",
  pages="1--6",
  url="http://www.electroscope.zcu.cz"
}