Detail předmětu

Vybrané metody strukturní analýzy

FSI-9VMSAk. rok: 2023/2024

Obsah předmětu, u kterého se nepředpokládá klasická přednášková forma ale pouze konsultace, je přizpůsobován zaměření budoucí disertační práce doktoranda. V rámci předmětu se student seznámí se základy všech běžně požívaných metod k charakterizaci struktur(světelná mikroskopie,transmisní a rastrovací elektronová mikroskopie,metody lokální chemické analýzy v elektronové mikroskopii,metody s rastrující sondou, rentgenostrukturní analýza atd.) Dále se pak velmi detailně seznámí s těmi metodami, které bude používat při tvorbě své disertační práce.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

0

Garant předmětu

doc. Ing. Vít Jan, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav materiálových věd a inženýrství (ÚMVI)

Vstupní znalosti

Předpokladem pro studium tohoto předmětu jsou velmi dobré znalosti materiálových věd v celé jejich šíři, získané v průběhu bakalářského studia a zejména pak při studiu magisterské specializace.

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Zkouška-písemná i ústní
Výuka je nepovinná a obvykle probíhá pouze formou konzultací .Pouze pokud je přihlášeno více jak 5 studentů, probíhají přednášky

Učební cíle

Cílem předmětu je poskytnout doktorandovi kvalitní přehled metod,které jsou k disposici pro analýzu struktury(morfologie,fázového i lokálního chemického složení)kovových i nekovových materiálů.Dále pak hluboké znalosti těch metod,které student bude využívat v rámci své experimentální činnosti při přípravě disertační práce.
Získání hlubokých znalostí experimentálních metod,používaných při přípravě disertační práce.

Základní literatura

P.B.Hirsch et al.Electron Microscopy of Thin Crystals
P.E.J.Flewit,R.K.Wild,Physical Methods for Materials Characterization
D.Brandon-Microstructural Characterization of Materials
V.Radle,O.Engler-Tecture Analysis
J.I.Goldstein,et al. Scanning Electron Micriscopy and X-Ray Microanalysis
Shon Ling Wang-Characterization of Nanophase Materials

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program D-MAT-K doktorský, 1. ročník, zimní semestr, doporučený
  • Program D-MAT-P doktorský, 1. ročník, zimní semestr, doporučený

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

20 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

doc. Ing. Vít Jan, Ph.D.

Osnova

1. Úvod do strukturní a fázové analýzy(metody zobrazovací a analytické).
2. Světelná mikroskopoie(metody zvýšení fázového kontrastu).
3. Kvantitativní hodnocení fází,tvrdost a mikrotvrdost.
4. Úvod do elektronové mikroskopie.
5. Strukturní faktor,reciproká mřížka,elektronová difrakce.
6. Mikroskopie s vysokým rozlišením,nekonvenční zdroje elektronů,difrakce kovergentním svazkem elektronů.
7. Vysokonapěťová transmisní elektronová mikroskopie,rastrovací elektronová mikroskopie.
8. Environmentální rastrovací elektron.mikroskopie,úvod k analytickým metodám.
9. Energiově a vlnově dispersní spektrometry(EDS a VDS)-obecné charakteristiky.
10. Analýza s využitím energiových ztrát elektronů(EELS),další možnosti analýzy v elektron.mikroskopii.
11. Problémy s aplikací EDS a VDS,ZAF korekce,analýza submikron.objemů.
12. Obrazová analýza ve světelné a elektronové mikroskopii.
13. Difrakční metody v transmisní a rastrovací elektron. mikroskopii. Rtg. difrakční analýza.
Výběr experimentálních metod je přizpůsobován zaměření disertační práce.Proto se nepředpokládá výuka formou přednášek celé skupině studentů, ale pouze konzultační forma výuky.