Detail předmětu

Prostředky řízení jakosti

FSI-XPRAk. rok: 1999/2000

Předmět je zaměřen na studium měřidel (měřicích přístrojů a ostatních
metrologických prostředků) z hlediska jejich funkce, kterou je zajišťování
jakosti strojírenské výroby a v oborech souvisejících. Program přednášky
je zaměřen především na studium unikátních měřicích přístrojů, používaných
v oboru měření délky a ostatních geometrických veličin. Je studován
především souřadnicový měřicí stroj (CMM) a laserový interferometr (LI)
na současné nejvyšší úrovni metrologické podpory jakosti výroby jak
v celém oboru palety strojírenské výroby navazující na vysokou tradiční
úroveň u nás, tak i v oboru mikro- a nanotechnologií.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

4

Garant předmětu

Výsledky učení předmětu

Podrobné seznámení se současnými základními prostředky řízení jakosti
v oboru měření délek a geometrických veličin, kterými jsou CMM a LI.

Způsob a kritéria hodnocení

Pro udělení zápočtu je nutná aktivní účast v laboratorních cvičeních.
Zápočet bude udělen na základě docházky a hodnocení aktivní účasti
ve cvičeních.
Zkouška sestává z ústní zkoušky, kde posluchač prokáže základní
teoretické a praktické znalosti.

Učební cíle

Seznámit posluchače s nejmodernějšími prostředky řízení jakosti ve strojí-
renství v oboru měření délek, kterými jsou CMM a LI.

Základní literatura

Osanna, P.H. a kol.:: Koordinatenmeßtechnik für das Qualitätsmanagement im Produktionsbetrieb., , 0
Brezina, I.:: Súradnicové meracie stroje a ich zkúšanie., , 0

Doporučená literatura

Skopal, M.:: Souřadnicové měřicí stroje. [Sborník přednášek 11. konference ČKS]., , 0
Boček, V.:: Technická optika I. a II., , 0
Vrbová, M. a kol:: Lasery a moderní optika., , 0

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2301-5 magisterský

    obor , 2. ročník, zimní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

22 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1. CMM, úvod a základní pojmy, matematická podpora.
2. CMM, souřadný a snímací systém a jeho realizace.
3. CMM, základní měřicí úlohy, strategie měření.
4. CMM, softwarová podpora.
5. Základy optického zobrazení s aspekty pro konstrukci měřidel.
6. Jednoduché optické měřicí přístroje, oko.
7. Klasické optické prostředky řízení jakosti (mikroskop, kolimátor, ..).
8. Laser jako zdroj záření pro měřidla.
9. Interferometrie v systému zajišťování jakosti. LI, základní použití
pro měření délek.
10. LI, doplňky pro měření geometrických veličin.
11. Optické metody v unikátních měřidlech, bezdotykové měření drsnosti,
bezdotykové snímací systémy CMM, mikro- a nanotechnologie).

Cvičení na počítači

22 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Osnova

1. Úvod. Školení bezpečnosti při práci s lasery.
2. Konstrukční jednotky CMM.
3. Souřadný systém CMM, měřicí a snímací systém CMM.
4. Demonstrace základních měřicích úloh na CMM.
5. Programování složitějších měřicích úloh na CMM.
6. Jednoduché optické měřicí přístroje, zobrazení paprskové optiky.
7. Klasické optické měřicí přístroje.
8. Laser a jeho konstrukce.
9. Klasický interferometr pro návaznost koncových měrek.
10. LI pro polohování měřítek délky.
11. LI, použitý při speciálních úlohách zkoušek geometrických parametrů
obráběcích strojů a měřidel.