Detail předmětu

Metody studia materiálů B

FSI-WZ3Ak. rok: 1999/2000

Problémy rtg. spektrální analýzy. ZAF korekce. Specielní mikroskopické metody a metody elektronové difrakce (např. ALCHEMI, EXAFS, difrakce pomalých elektronů, difrakce v REM atd.) Metody rychlé spektrální analýzy pro průmyslovou praxi (rtg. spektrometry, metody využívající emisi, absorbci a fluorescenci světelných faktorů aj.). Principy dalších vybraných fyzikálních metod (ESCA, SIMS, JIPS). Mikroskopie s využitím akustické emise.Laserová mikroskopie. Metody s rastrující sondou (rastrovací tunelová mikroskopie, AFM, SNOM a další).

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Výsledky učení předmětu

Široký přehled ve vybraných oblastech i hlubší znalosti metod
studia struktury, substruktury, fázového a chemického složení
materiálů.

Učební cíle

Kurz navazuje na znalosti základních metod strukturní a fázové
analýzy, a rozšiřuje je o základní znalosti metod, používaných
zejména v základním výzkumu, ale i metod běžných v hutní analytice
a strojírenství (spektroskopické metody). Cílem je připravit
budoucí materiálové inženýry pro rychlou analýzu optimální volby
metod(y) pro řešení daného provozního problému i pro řešení úkolu
základního a aplikovaného výzkumu.

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2301-5 magisterský

    obor , 2. ročník, zimní semestr, povinný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

22 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Speciální laboratoř

22 hod., povinná

Vyučující / Lektor