Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail předmětu
FSI-WZ3Ak. rok: 1999/2000
Problémy rtg. spektrální analýzy. ZAF korekce. Specielní mikroskopické metody a metody elektronové difrakce (např. ALCHEMI, EXAFS, difrakce pomalých elektronů, difrakce v REM atd.) Metody rychlé spektrální analýzy pro průmyslovou praxi (rtg. spektrometry, metody využívající emisi, absorbci a fluorescenci světelných faktorů aj.). Principy dalších vybraných fyzikálních metod (ESCA, SIMS, JIPS). Mikroskopie s využitím akustické emise.Laserová mikroskopie. Metody s rastrující sondou (rastrovací tunelová mikroskopie, AFM, SNOM a další).
Jazyk výuky
Počet kreditů
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Výsledky učení předmětu
Učební cíle
Zařazení předmětu ve studijních plánech
obor , 2. ročník, zimní semestr, povinný
Přednáška
Vyučující / Lektor
Speciální laboratoř