Detail předmětu

Povrchy a tenké vrstvy II

FSI-T2TAk. rok: 1999/2000

Kurs je zaměřen na výklad teoretických základů interakce
světla se systémy tenkých vrstev pomocí moderních
formálních přístupů.
Jsou probírány základní experimentální metody používané
pro optickou analýzu tenkých vrstev.
Značná pozornost je také věnována aplikacím optických
vrstev v praxi a základním metodám přípravy těchto
vrstev.
Je probírán rovněž vliv defektů (zejména drsnosti
rozhraní) na parametry tenkovrstevných systémů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

5

Garant předmětu

prof. RNDr. Miloslav Ohlídal, CSc.

Zajišťuje ústav

Ústav fyzikálního inženýrství (ÚFI)

Výsledky učení předmětu

Absolvent kursu získá schopnost posoudit a analyzovat
optické vlastnosti povrchů se systémy tenkých vrstev.

Způsob a kritéria hodnocení

Podmínky udělení zápočtu: aktivní účast v laboratorním
cvičení.
Zkouška: Zkouška prověřuje znalost základů interakce
světla se systémy tenkých vrstev, znalost základních
experimentálních metod analýzy tenkých vrstev a měření
charakteristik drsnosti rozhraní. Zkouška je ústní.

Učební cíle

Poskytnout základní znalosti z optiky povrchů a tenkých
vrstev.

Základní literatura

Vašíček A.: Optika tenkých vrstev,
Knittl Z.: Optics of Thin Films,
Beckmann P., Spizzichino A.: The Scattering of Electromagnetic Waves from Rough Surfaces,

Doporučená literatura

Vašíček A. : Optika tenkých vrstev,
Čtyroký J., Hüttel,J.,Schröfel, Šimánková L.: Integrovaná optika,

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program M2301-5 magisterský

    obor , 2. ročník, zimní semestr, volitelný
    obor , 2. ročník, zimní semestr, volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

22 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

prof. RNDr. Miloslav Ohlídal, CSc.

Osnova

Optické charakteristiky tenkých vrstev. Maticový a rekurentní
formalizmus pro vyjádření těchto charakteristik. Základní
metody optické analýzy pro určení hodnot optických parametrů
tenkých vrstev. Optické vlastnosti některých vrstevnatých systémů
používaných v praxi. Vliv některých poruch na optické charakteristiky
tenkých vrstev. Vedení světla tenkými vrstvami. Základní vlastnosti
planárních světlovodů. Základní metody přípravy tenkých vrstev.
Základní metody koherenční optiky pro studium povrchové drsnosti.

Laboratorní cvičení

11 hod., povinná

Vyučující / Lektor

prof. RNDr. Miloslav Ohlídal, CSc.

Osnova

Metoda měření povrchové drsnosti
- z úhlové korelace polí koherenční zrnitosti,
- z rozptylu laserového světla,
- pomocí střihové interferometrie.