Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
doc. Ing.
Ph.D.
FEEC, UMEL – Associate professor
+420 54114 6208gablech@vut.cz
Send BUT message
2020
BRODSKÝ, J.; GABLECH, I.; PEKÁREK, J.: 2D-FET struktury s indukovaným pnutím. URL: http://webzor.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=148. (Funkční vzorek)
Functioning sample
KLEMPA, J.; BRODSKÝ, J.; GABLECH, I.; PEKÁREK, J.: Rezonátory s piezoelektrickými vrstvami na bázi AlN. URL: http://webzor.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=147. (Funkční vzorek)
HUBÁLEK, J.; ŠIK, O.; MÜNZ, F.; VOBORNÝ, S.; GABLECH, I.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, Veveří, CZ: Optický detektor viditelného a blízkého infračerveného spektra záření. 33879, Užitný vzor. (2020)
Utility model
2017
NEUŽIL, P.; PEKÁREK, J.; SVATOŠ, V.; GABLECH, I.: 100 pixelový MEMS s bolometry. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=132. (Funkční vzorek)
PEKÁREK, J.; GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.: Kontrolér pro měření 100 pixelového MEMS bolometru. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=133. (Funkční vzorek)
GABLECH, I.; SOMER, J.; FOHLEROVÁ, Z.; KURDÍK, S.; PEKÁREK, J.; FECKO, P.; SVATOŠ, V.; HUBÁLEK, J.; NEUŽIL, P.: Utopené mikrokanály pro mikrofluidiku. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=134. (Funkční vzorek)
2016
PRÁŠEK, J.; HRDÝ, R.; GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; ZAHRADNÍČEK, R.: Elektrochemický hybridní tříelektrodový systém s nanostrukturovanou pracovní elektrodou. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=123. (Funkční vzorek)
NEUŽIL, P.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; GABLECH, I.: Membrány bolometru 2. generace. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=131. (Funkční vzorek)
NEUŽIL, P.; PEKÁREK, J.; SVATOŠ, V.; GABLECH, I.: Kontrolér integrovaného obvodu pro měření velmi malých signálů bolometru s nestandardním užitím sigma-delta modulátoru. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=125. (Funkční vzorek)
NEUŽIL, P.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; GABLECH, I.: Membrána bolometru pro detekci IR záření. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=124. (Funkční vzorek)
2015
GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; SOMER, J.: Kontaktovací podložka pro selektivní elektrické připojení dvou kontaktů čipu. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=111. (Funkční vzorek)
GABLECH, I.; ŠEDIVÝ, M.: Senzor plynů pro selektivní detekci NH3, iC4H10 a CH4. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=109. (Funkční vzorek)
SEDLÁČEK, J.; GABLECH, I.; SVATOŠ, V.: Vakuová LPCVD komora pro lokální depozici přímo na čipu s možností „in situ“ monitorování růstu vrstev pod optickým mikroskopem. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=110. (Funkční vzorek)
PYTLÍČEK, Z.; GABLECH, I.; SEDLÁČEK, J.; PRÁŠEK, J.; HUBÁLEK, J.: Komůrka s vyhřívací platformou pro testování senzorů plynů. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=114. (Funkční vzorek)
GABLECH, I.; PRÁŠEK, J.: MEMS jazýčkový rezonátor pro senzorické aplikace. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=69. (Funkční vzorek)
2014
GABLECH, I.; PRÁŠEK, J.: Polovodičový SnO2/MWCNTs senzor pro detekci isobutanu. URL: http://labsensnano.umel.feec.vutbr.cz/products.aspx?id=88. (Funkční vzorek)
2013
GABLECH, I.; PRÁŠEK, J.: TO-8/LTCC platforma pro testování aktivních vrstev senzorů plynů. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=68. (Funkční vzorek)
SEDLÁČEK, J.; MAJZLÍKOVÁ, P.; GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; PRÁŠEK, J.: Stojan pro elektrochemická měření. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=74. (Funkční vzorek)
PYTLÍČEK, Z.; SEDLÁČEK, J.; GABLECH, I.; PRÁŠEK, J.: Plynová směšovací stanice. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=75. (Funkční vzorek)
2012
PRÁŠEK, J.; GABLECH, I.; PYTLÍČEK, Z.; SVATOŠ, V.; HUBÁLEK, J.: Vyhřívací platforma pro senzory plynů. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=56. (Funkční vzorek)
*) Citations are generated once every 24 hours.