Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
VYROUBAL, P.
Originální název
Generation Of Shock Waves In Environmental Scanning Electron Microscope And Their Description
Anglický název
Druh
Stať ve sborníku v databázi WoS či Scopus
Originální abstrakt
Environmental scanning electron microscope (ESEM) is one of the latest trends in microscopic methods. In this microscope, we can observe various types of specimens, es-pecially non-conductive and wet specimens. This is given by high pressure of gas in the specimen chamber. This article deals with computational modelling of pressure conditions and shock waves generation in the scintillation detector of secondary electrons for this type of micro-scope.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Scintillation detector of secondary electrons, finite element method, upwind computational scheme, shock wave.
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Vydáno
26.04.2013
Nakladatel
LITERA
Místo
Brno
ISBN
978-80-214-4695-3
Kniha
Student EEICT Proceedings of the 19th conference
Strany od
189
Strany do
193
Strany počet
5
BibTex
@inproceedings{BUT99403, author="Petr {Vyroubal}", title="Generation Of Shock Waves In Environmental Scanning Electron Microscope And Their Description", booktitle="Student EEICT Proceedings of the 19th conference", year="2013", number="1", pages="189--193", publisher="LITERA", address="Brno", isbn="978-80-214-4695-3" }