Detail aplikovaného výsledku

Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu

CHVÁTAL, M.; MAJZNER, J.; GRMELA, L.

Originální název

Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu

Anglický název

Automatization measurement of output characteristics submicron MOSFET in helium cryostat

Druh

Software

Abstrakt

Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K.

Abstrakt aglicky

Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K.

Klíčová slova

Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW.

Klíčová slova anglicky

Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW.

Umístění

http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu

Možnosti využití

výsledek využívá pouze poskytovatel

Licenční poplatek

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

www

http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu