Applied result detail

Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu

CHVÁTAL, M.; MAJZNER, J.; GRMELA, L.

Original Title

Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu

English Title

Automatization measurement of output characteristics submicron MOSFET in helium cryostat

Type

Software

Abstract

Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K.

Abstract in English

Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K.

Keywords

Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW.

Key words in English

Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW.

Location

http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu

Possibilities of use

only the provider uses the result

Licence fee

Use of the result by another entity is possible without acquiring a license (the result is not licensed)

www

http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu