Detail výsledku s přesahem do praxe

Zpráva z analýzy technologických vad na operačním zesilovači NCV20072DR2G

HÁZE, J.; OTÁHAL, A.

Originální název

Zpráva z analýzy technologických vad na operačním zesilovači NCV20072DR2G

Druh

Souhrnná výzkumná zpráva

Originální abstrakt

Prvním krokem bylo provedení optické a rentgenové inspekce elektronického pouzdra OZ NCV20072DR2G umístěného na DPS. Dále byla provedena demontáž pouzdra a následný proces mokrého chemického leptání pro odstranění pouzdřící hmoty (dekapsulace). Následnými kroky byla postupně odstraněna pasivace a vrchní metalická vrstva na čipu OZ z důvodu možnosti inspekce celé struktury. Posledním krokem byla inspekce struktury čipu OZ.

Klíčová slova

Zpráva z analýzy technologických vad na operačním zesilovači

Autoři

HÁZE, J.; OTÁHAL, A.

Vydáno

31.12.2020

Strany od

1

Strany do

10

Strany počet

10

BibTex

@misc{BUT170577,
  author="Jiří {Háze} and Alexandr {Otáhal}",
  title="Zpráva z analýzy technologických vad na operačním zesilovači NCV20072DR2G",
  year="2020",
  pages="1--10",
  note="Summary research report"
}