Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
OULEHLA, J. LAZAR, J.
Originální název
Thin film deposition and LIDT testing at ISI Brno
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
In this contribution we present a technology for thin film optical coating deposition and laser induced damage threshold (LIDT) testing of coatings available at the Institute of Scientific Instruments. We use our e-beam evaporation coating system equipped with plasma ion assisted deposition to produce various optical coatings and a LIDT test station to test them. The station allows for testing at room temperature as well as cryogenic conditions.
Klíčová slova
thin film optics; e-beam evaporation; coatings; LIDT; laser damage
Autoři
OULEHLA, J.; LAZAR, J.
Vydáno
7. 1. 2015
ISBN
9781628415575
ISSN
0277-786X
Periodikum
Proceedings of SPIE
Stát
Spojené státy americké
Strany od
94420Y:1
Strany do
94420Y:5
Strany počet
4