Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikačního výsledku
ŠICNER, J.; ŠKARVADA, P.; MACKŮ, R.; KOKTAVÝ, P.
Originální název
Study of the Influence of Structural Defects on Properties of Silicon Solar Cells
Anglický název
Druh
Článek WoS
Originální abstrakt
Solar cells of common sizes contains many of these defects and it is not easy to determine the influence of particular defects on the characteristics of the whole solar cell. Therefore, in our research we use samples of size of square centimeter at which we can disentangle the influence of the defect. We localize the defect by using a CCD camera, we measure the electrical, thermal and optical properties of the sample and then study it by means an electron microscope, we find the damaged structure and put it to focused ion beam. We expect the change in electrical, thermal and optical properties of the sample.
Anglický abstrakt
Klíčová slova
Focused Ion Beam (FIB), Nondestructive Diagnostics, Solar Cell, Structural Defects
Klíčová slova v angličtině
Autoři
Rok RIV
2017
Vydáno
01.01.2014
Nakladatel
Trans tech publication
Místo
Switzerland
ISSN
1013-9826
Periodikum
Key Engineering Materials (print)
Svazek
592-593
Číslo
1
Stát
Švýcarská konfederace
Strany od
449
Strany do
452
Strany počet
4
BibTex
@article{BUT105398, author="Jiří {Šicner} and Pavel {Škarvada} and Robert {Macků} and Pavel {Koktavý}", title="Study of the Influence of Structural Defects on Properties of Silicon Solar Cells", journal="Key Engineering Materials (print)", year="2014", volume="592-593", number="1", pages="449--452", doi="10.4028/www.scientific.net/KEM.592-593.449", issn="1013-9826" }