Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise

Narrowband noise measurement of solar cell - UniNoise

Software

Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření byl vyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku.

One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Microplasma noise measurement for studding the solar cells is quite difficult. A complication arises because of low level signal, temperature dependence and electromagnetic interference. For measurement purposes has been developed operating software. This software finds use where is essential precise and high speed automatic measurement. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed simultaneously.

IV-characteristic, narrowband noise signal, pn junction, solar cell

IV-characteristic, narrowband noise signal, pn junction, solar cell

Laboratoře UFYZ

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/index.php?lang=1&page=86