Detail publikace

Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory

ZBOŘIL, F., KOTÁSEK, Z.

Originální název

Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

The paper deals with an unusual application of the Hopfield neural network for test pattern generation of combinational logic circuits.

Klíčová slova

Hopfield neural network, logic circuits, test pattern generation

Autoři

ZBOŘIL, F., KOTÁSEK, Z.

Rok RIV

1998

Vydáno

8. 10. 1998

Nakladatel

SAV

Místo

Herlany, SR

ISBN

80-88786-94-0

Kniha

Proceedings of the ECI'98

Strany od

75

Strany do

80

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT54327,
  author="Zdeněk {Kotásek} and František {Zbořil}",
  title="Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory",
  booktitle="Proceedings of the ECI'98",
  year="1998",
  pages="75--80",
  publisher="SAV",
  address="Herlany, SR",
  isbn="80-88786-94-0"
}