Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
ZBOŘIL, F., KOTÁSEK, Z.
Originální název
Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
The paper deals with an unusual application of the Hopfield neural network for test pattern generation of combinational logic circuits.
Klíčová slova
Hopfield neural network, logic circuits, test pattern generation
Autoři
Rok RIV
1998
Vydáno
8. 10. 1998
Nakladatel
SAV
Místo
Herlany, SR
ISBN
80-88786-94-0
Kniha
Proceedings of the ECI'98
Strany od
75
Strany do
80
Strany počet
6
BibTex
@inproceedings{BUT54327, author="Zdeněk {Kotásek} and František {Zbořil}", title="Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory", booktitle="Proceedings of the ECI'98", year="1998", pages="75--80", publisher="SAV", address="Herlany, SR", isbn="80-88786-94-0" }