Detail publikace

Impedanční spektroskopie cementotřískové desky cetris-basic

LUŇÁK, M. KUSÁK, I. SCHAUER, P.

Originální název

Impedanční spektroskopie cementotřískové desky cetris-basic

Český název

Impedanční spektroskopie cementotřískové desky cetris-basic

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

NDT metodou impedanční spektroskopie byly charakterizovány vzorky cementotřískové desky cetris. Byly pozorovány rozdíly ve spektru tanδ(f) vzorků v suchém stavu a různých stavech absolutní vlhkosti. Dále byla popsána kvalita pomocí druhu ztrát dominujících v materiále. Měřením byla ověřena reprodukovatelnost této metody.

Český abstrakt

NDT metodou impedanční spektroskopie byly charakterizovány vzorky cementotřískové desky cetris. Byly pozorovány rozdíly ve spektru tanδ(f) vzorků v suchém stavu a různých stavech absolutní vlhkosti. Dále byla popsána kvalita pomocí druhu ztrát dominujících v materiále. Měřením byla ověřena reprodukovatelnost této metody.

Rok RIV

2005

Vydáno

30.11.2005

Nakladatel

Brno University of Technology

Místo

Brno

ISBN

80-7204-420-6

Kniha

Workshop NDT 2005 Non-Destructive Testing in Engineering Practice

Strany od

82

Strany do

85

Strany počet

4

Dokumenty

BibTex 


@inproceedings{BUT16099,
  author="Miroslav {Luňák} and Ivo {Kusák} and Pavel {Schauer}",
  title="Impedanční spektroskopie cementotřískové desky cetris-basic",
  annote="NDT metodou impedanční spektroskopie byly charakterizovány vzorky cementotřískové desky cetris. Byly pozorovány rozdíly ve spektru tanδ(f) vzorků v suchém stavu a různých stavech absolutní vlhkosti. Dále byla popsána kvalita pomocí druhu ztrát dominujících v materiále. Měřením byla ověřena reprodukovatelnost této metody.",
  address="Brno University of Technology",
  booktitle="Workshop NDT 2005 Non-Destructive Testing in Engineering Practice",
  chapter="16099",
  howpublished="print",
  institution="Brno University of Technology",
  year="2005",
  month="november",
  pages="82--85",
  publisher="Brno University of Technology",
  type="conference paper"
}