doc. Ing.

Petr Bábor

Ph.D.

FME, IPE DPSN – Associate professor

+420 54114 2783
babor@fme.vutbr.cz

Send BUT message

doc. Ing. Petr Bábor, Ph.D.

Applied results

  • 2023

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; ZDRÁHAL, J.: Laserově odolný reflexní optický element pro 2 000 nm. (Funkční vzorek)
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; ZDRÁHAL, J.; PEKAŘ, V.: Laserově odolný reflexní optický element pro 1 030 nm. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2022

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: Laserově odolný reflexní optický element pro 266 nm. (Funkční vzorek)
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: Laserově odolný antireflexní optický element pro 2 000 nm. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2021

    BÁBOR, P.: Manipulátor vzorků. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/specimen-manipulator/. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2017

    AXMAN, T.; BÁBOR, P.: Držák vzorků pro chlazení (20K) a žíhání vzorků (1000 K) v UHV podmínkách. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2017-01/. (Funkční vzorek)
    Detail

    DOLEŽEL, P.; LOPOUR, F.; PLACHÝ, L.; SKLADANÝ, R.; ZIGO, J.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.: Funkční prototyp aparatury UHV SEM/SPM. (Prototyp)
    Detail

  • 2014

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T.: Sestava VUT TOF-SARS pro detekci vodíku. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2014-10/. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2009

    BÁBOR, P.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.; PAVERA, M.; POLČÁK, J.: IonProfile. URL: http://physics.fme.vutbr.cz/ufi.php?Action=0&Id=1854. (Software)
    Detail

  • 2008

    POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; ČECHAL, J.: Počítačově řízený UHV manipulátor pro automatické měření spekter XPS. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)
    Detail

    POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.: Termální desorpční spektroskopie (TDS). URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)
    Detail

    PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; DUDA, R.; ŠIKOLA, T.: SIMS TOF-LEIS hloubkový profilometr s nanometrovým rozlišením. URL: http://www.physics.fme.vutbr.cz/. (Funkční vzorek)
    Detail

  • 2007

    BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T.: Ultravakuová aparatura pro přípravu nanostruktur metodou MBE. (Funkční vzorek)
    Detail

*) Citations are generated once every 24 hours.