Creative activities

• HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠIK, O.; ŠKARVADA, P.: Autoclav-02; Systém řízení Autoklávu. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (prototyp)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, number of downloads: 1
  Detail

• HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠIK, O.; TOFEL, P.: AU_FY_01; PLC řízení procesu vytvrzování karbonových prvků. UFYZ FEKT VUT V Brně, fy Carbon, Lipnik nad Bečvou, http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (prototyp)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, number of downloads: 1
  Detail

• ŠKARVADA, P.; HOLCMAN, V.; VONDRA, M.; ŠIK, O.: AFCrjMv5.3; Řídicí jednotka AFCrjMv5.3 pro AFC verze 5kW. Baumann Technologie a.s.. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, number of downloads: 1
  Detail

• HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; TOFEL, P.; ŠIK, O.: Carbon 1.5; Řízení procesu optimalizace a diagnostiky výroby karbonových dílů. Fy. Pro carbon Lipnik nad Bečvou, UFYZ FEKT. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (funkční vzorek)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, number of downloads: 1
  Detail

• ŠIK, O.; MÜNZ, F.; VOBORNÝ, S.; HUBÁLEK, J.: InN MOCVD; Epitaxní vrstva InN nadeponovaná nízkoteplotní aparaturou MOCVD. CEITEC, Research group RG102. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=140. (funkční vzorek)
  http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=140, number of downloads: 1
  Detail

• ŠIK, O.; VOBORNÝ, S.; MÜNZ, F.; HUBÁLEK, J.: GaN MOCVD; Epitaxní vrstva GaN nadeponovaná vysokoteplotní aparaturou MOCVD. CEITEC, Research group RG102. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=141. (funkční vzorek)
  http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=141, number of downloads: 1
  Detail

• ŠIK, O.; VOBORNÝ, S.; MÜNZ, F.; HUBÁLEK, J.: GaN MOCVD; Epitaxní vrstva AlN nadeponovaná vysokoteplotní aparaturou MOCVD. CEITEC, Research group RG102. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=142. (funkční vzorek)
  http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=142, number of downloads: 1
  Detail

• ŠIK, O.; VESELÝ, J.; HUBÁLEK, J.; HOLCMAN, V.: THz Lenses; Univerzální optický systém s automatizovanou závěrkou pro záření v THz oblastech. FEKT UMEL, Technická 10, 61600 Brno. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: MEO_DP0029_2021_GFUNK03; Laserově odolný reflexní optický element pro 266 nm. Meopta Přerov. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; BŘEZINA, J.: MEO_DP0029_2021_GFUNK04; Laserově odolný antireflexní optický element pro 2 000 nm. Meopta Přerov. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; PEKAŘ, V.; ZDRÁHAL, J.: MEO_DP0029_2023_GFUNK06; Laserově odolný reflexní optický element pro 2 000 nm. Bude použito ve výrobě firmy Meopta.. (funkční vzorek)
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIK, O.; ŠKODA, D.; ZDRÁHAL, J.; PEKAŘ, V.: MEO_DP0029_2023_GFUNK05; Laserově odolný reflexní optický element pro 1 030 nm. Bude použito ve výrobě ve fimě Meopta. (funkční vzorek)
  Detail

• HOLCMAN, V.; MACKŮ, R.; ŠKARVADA, P.: Autoclav-01; Systém řízení Autoklávu s PLC AMIT. UFYZ - FEKT VUT. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty, number of downloads: 1
  Detail

• TRČKA, T.; ŠIK, O.; GRMELA, L.; KNÁPEK, A.: Katody_2013; Software pro analýzu transportu nosičů náboje u autoemisních katod. Ústav fyziky, FEKT, VUT v Brně. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/, number of downloads: 1
  Detail

• TRČKA, T.; ŠIK, O.; BOGATYREVA, N.: Formovaní_5D; Softwarová podpora pro dlohodobé vícekanálové formovaní dielektrik kondenzátorů. http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2014/softwarova-podpora-pro-formovani-dielektrik-kondenzatoru. URL: http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2014/softwarova-podpora-pro-formovani-dielektrik-kondenzatoru. (software)
  http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/2014/softwarova-podpora-pro-formovani-dielektrik-kondenzatoru, number of downloads: 2
  Detail

• BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIK, O.: Metody kvantitativní analýzy dopantů a vysokonapěťová diagnostika čipů; Metody kvantitativní analýzy dopantů a vysokonapěťová diagnostika čipů. Purkyňova 123, Brno 61200, budova C, laboratore cistych prostor. URL: http://nano.ceitec.cz/. (ostatní)
  http://nano.ceitec.cz/, number of downloads: 0
  Detail

In the event of a discrepancy in the data, inspect the FAQs for visiting cards.