Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
prof. Ing.
Dr., DSc.
FEEC, UMEL – Professor
neuzilp@vut.cz
Send BUT message
2023
NEUŽIL, P.; LEDNICKÝ, T.; FOHLEROVÁ, Z.; PAJER, P.; ZÍTKA, O.; Vysoké ucení technické v Brne, Antonínská 548/1, 60200 Brno, Veverí, Ceská republika Mendelova univerzita v Brne, Zemedelská 1665/1, 61300 Brno, Cerná Pole, Ceská republika: Metoda a systém na izolaci nukleových kyselin. 23026762, Patent. (2023)Detail
NEUŽIL, P.; LEDNICKÝ, T.; FOHLEROVÁ, Z.; PAJER, P.; ZÍTKA, O.; Vysoké ucení technické v Brne, Antonínská 548/1, 60200 Brno, Veverí, Ceská republika Mendelova univerzita v Brne, Zemedelská 1665/1, 61300 Brno, Cerná Pole, Ceská republika: Systém na amplifikaci nukleových kyselin. 23038340, Patent. (2023)Detail
2022
NEUŽIL, P.; FOHLEROVÁ, Z.; ZÍTKA, O.; PAJER, P.: Řídící software COVID 1; Řídící software pro systém na izolaci a amplifikaci nukleových kyselin. FEKT UMEL. URL: https://www.umel.fekt.vut.cz/vysledky-vav. (Software)Detail
FOHLEROVÁ, Z.; NEUŽIL, P.; ZÍTKA, O.; PAJER, P.: Řídící software COVID 2; Software pro řízení systému purifikace a amplifikace nukleových kyselin založených na Windows. UMEL FEKT VUT. URL: https://www.umel.fekt.vut.cz/vysledky-vav. (Software)Detail
NEUŽIL, P.; LEDNICKÝ, T.; VOPAŘILOVÁ, P.; ŠPLÍCHAL, Z.; KUDR, J.; PAJER, P.; ZÍTKA, O.: TWO-NA; Funkční vzor dvoukanálového systému na detekci nukleových kyselin. UMEL FEKT. URL: https://www.umel.fekt.vut.cz/vysledky-vav. (Funkční vzorek)Detail
NEUŽIL, P.; LEDNICKÝ, T.; VOPAŘILOVÁ, P.; ŠPLÍCHAL, Z.; KUDR, J.; ZÍTKA, O.; PAJER, P.: ONE-NA; Funkční vzorek jednokanálového systému na detekci nukleových kyselin. FEKT UMEL. URL: https://www.umel.fekt.vut.cz/vysledky-vav. (Funkční vzorek)Detail
2020
NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.; PEKÁREK, J.; PROKOP, R.; Vysoké učení technické v Brně: Optický snímací modul s hyperspektrálním rozsahem detekce optického záření. 33863, Užitný vzor. (2020)Detail
ZAHRADNÍK, P.; HUBÁLEK, J.; NEUŽIL, P.; PEKÁREK, J.; PROKOP, R.; České vysoké učení technické v Praze, Vysoké učení technické v Brně: Hyperspektrální kamera. 36974, Užitný vzor. (2020)Detail
2019
FOHLEROVÁ, Z.; PODEŠVA, P.; NEUŽIL, P.: Optofluidní čip; Optofluidní mikročip s teplotním gradientem pro určování teplotní stability biomolekul v segmentovaném toku. Ústav mikroelektroniky Vysoké učení technické v Brně. (Funkční vzorek)Detail
HUBÁLEK, J.; NEUŽIL, P.; PEKÁREK, J.; PROKOP, R.: Modul kamery; Snímací modul hyperspektrální kamery založený na řádkovém detektoru. Laboratoř senzorů a nanotechnologií, UMEL FEKT VUT, Technická 3058/10, 616 00 Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=144. (Funkční vzorek)Detail
2018
HRDÝ, R.; FOHLEROVÁ, Z.; SVATOŠ, V.; HUBÁLEK, J.; NEUŽIL, P.: 64-elektrodový čip 2. generace; Elektrochemický 64-mikroelektrodový čip pro biochemickou detekci. Laboratoře LAbSensNano N.066 Technická 10, Brno. (Funkční vzorek)Detail
2017
GABLECH, I.; SOMER, J.; FOHLEROVÁ, Z.; KURDÍK, S.; PEKÁREK, J.; FECKO, P.; SVATOŠ, V.; HUBÁLEK, J.; NEUŽIL, P.: Utopené mikrokanály; Utopené mikrokanály pro mikrofluidiku. Laboratoř 0.67 UMEL, VUT, Technická 10, Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=134. (Funkční vzorek)Detail
NEUŽIL, P.; PEKÁREK, J.; SVATOŠ, V.; GABLECH, I.: Řádek bolometru; 100 pixelový MEMS s bolometry. Laboratoř 0.67 UMEL, VUT, Technická 10, Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=132. (Funkční vzorek)Detail
PEKÁREK, J.; GABLECH, I.; SVATOŠ, V.; NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.: Bolometer_100_revA; Kontrolér pro měření 100 pixelového MEMS bolometru. Laboratoř 0.67 UMEL, VUT, Technická 10, Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=133. (Funkční vzorek)Detail
2016
NEUŽIL, P.; PEKÁREK, J.; SVATOŠ, V.; GABLECH, I.: ROIC controller revA; Kontrolér integrovaného obvodu pro měření velmi malých signálů bolometru s nestandardním užitím sigma-delta modulátoru. Laboratoř 0.67 UMEL, VUT, Technická 10, Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=125. (Funkční vzorek)Detail
NEUŽIL, P.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; GABLECH, I.: Bolometr 1. generace; Membrána bolometru pro detekci IR záření. Laboratoř 0.67 UMEL, VUT, Technická 10, Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=124. (Funkční vzorek)Detail
NEUŽIL, P.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; GABLECH, I.: Bolometr_2_gen; Membrány bolometru 2. generace. Laboratoř 0.67 UMEL, VUT, Technická 10, Brno. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=131. (Funkční vzorek)Detail
NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.; Vysoké učení technické v Brně: Membrána miniaturního bolometru se zvýšenou absorpcí a způsob vytvoření absorpční vrstvy bolometru. 306065, Patent. (2016)Detail
NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.; FUJCIK, L.; Vysoké učení technické v Brně: Způsob zpracování signálu z bolometru z pole bolometrů a elektronický systém k jeho provádění. 306216, Patent. (2016)Detail
2015
NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.; Vysoké učení technické v Brně: Membrána miniaturního bolometru se zvýšenou absorpcí. 28484, Užitný vzor. (2015)Detail
NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.; FUJCIK, L.; Vysoké učení technické v Brně: Elektronický systém pro detekci IR záření pomocí pole bolometrů. 28903, Užitný vzor. (2015)Detail
2014
SEDLÁČEK, J.; SVATOŠ, V.; PEKÁREK, J.; NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.: bolomtest; Pracoviště pro kalibraci bolometru. T10 N0.66. URL: http://labsensnano.umel.feec.vutbr.cz/products.aspx?id=87. (Funkční vzorek)Detail
PROKOP, R.; FUJCIK, L.; NEUŽIL, P.; PAVLÍK, M.: BOLOM; Automaticky kalibrovaný integrovaný obvod pro kompenzační měření velmi malých signálů bolometru s nestandardním užitím sigma-delta modulátoru. T10-6.27. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/. (Funkční vzorek)Detail
2013
PEKÁREK, J.; SVATOŠ, V.; NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.: BackSideEtch; Nástroj pro leptání zadních stran Si desek. T10-0.65. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=83. (Funkční vzorek)Detail
NEUŽIL, P.; HUBÁLEK, J.; PEKÁREK, J.; SVATOŠ, V.: BolometerStation; Stanice pro měření bolometrů. LabSensNano T10-0.67. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/LabSensNano/products.aspx?id=70. (Funkční vzorek)Detail
*) Citations are generated once every 24 hours.