ME 536

Czech

Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Faculty of Mechanical Engineering
- contractor (1.1.1980 - not assigned)
Faculty of Mechanical Engineering
- responsible department (1.1.1989 - not assigned)

ŠKODA, D., KALOUSEK, R., BARTOŠÍK, M., MATUROVÁ, K., ŠIKOLA, T. Fabrication of Nanostructures by AFM. In EVC'03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. 2 p.
Detail

KALOUSEK, R., ČERVENKA, J., BARTOŠÍK, M., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(100) by local anodic oxidation. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. 4 p. ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. Noncontact Atomic Force Microscopy - Simulated Images of Real Surface Structures. In ECASIA '03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. 1 p.
Detail

KALOUSEK, R., ŠKODA, D., LOPOUR, F., ŠIKOLA, T. Simulace zobrazení povrchů pomocí bezkontaktní metody AFM. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, 4 s. ISSN: 0009-0700.
Detail

ŠIKOLA, T. Nanotechnologie – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. 4 s.
Detail

KALOUSEK, R.; SCHMID, M.; HAMMERSCHMID, A.; LUNDGREN, E.; VARGA, P. Slowing down adatom diffusion by an adsorbate: Co on Pt(111) with and without preadsorbed CO. PHYSICAL REVIEW B, 2003, vol. 68, no. 23, 7 p. ISSN: 1098-0121.
Detail

ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T. Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, 4 s. ISSN: 0009-0700.
Detail

KALOUSEK, R., ŠKODA, D., ŠIKOLA, T. AFM – zařízení pro mikroskopii povrchů a nanotechnologie. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. 3 s.
Detail

BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6, 4 s. ISSN: 0447-6441.
Detail

Responsibility: Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc.