Other

• 2017

  HOFMAN, J.; HÁZE, J.; SHARP, R. A method for in-situ measurement of TID induced degradation in measurement accuracy of high-resolution ADCs. 2017.
  

  HOFMAN, J.; HÁZE, J.; SHARP, R. New techniques for Radiation testing of CubeSats. 2017.
  

• 2015

  Jiri Hofman. A method for measuring the effect of total ionising dose on temperature coefficients of semiconductor devices. 2015. p. 1-26.
  

  HÁZE, J.; BOHRN, M.; FUJCIK, L.; KLEDROWETZ, V.; PAVLÍK, M.; PROKOP, R. Souhrnná zpráva o řešení dílčího projektu TAČR GAMA - VUT Molekulární biologie a biotechnologie - STI - Nanopotenciostat pro analýzu biologických a chemických látek v kapalinách. 2015. 9 s.
  

  KLEDROWETZ, V.; HÁZE, J. Návrh analogových integrovaných obvodů. 2015. s. 1-122.
  

• 2007

  HÁZE, J.; BRZOBOHATÝ, J.; MUSIL, V.; ŠTEFFAN, P. Analogové integrované obvody. Analogové integrované obvody. Brno: VUT Brno, 2007. s. 1-138.
  

• 2006

  HÁZE, J.; VRBA, R.; FUJCIK, L.; SAJDL, O. Vzájemný převod analogových a digitálních signálů - MEL608. Brno: N-PRESS, 2006. 132 s.
  

• 2003

  VRBA, R., LEGÁT, P., FUJCIK, L., HÁZE, J., KUCHTA, R., MIKEL, B., SKOČDOPOLE, M. Digitální obvody a mikroprocesory. elektronické skriptum. Brno: FEKT VUT Brno, 2003. 238 s.
  

*) Citace se generují jednou za 24 hodin.