Bachelor's Thesis

Design of a spectrometer accessory for absolute reflectance measurements

Final Thesis 2.1 MB Appendix 8.47 MB

Author of thesis: Ing. Štěpán Šustek, Ph.D.

Acad. year: 2013/2014

Supervisor: Ing. Jakub Klus, Ph.D.

Reviewer: Ing. Martin Antoš, Ph.D.

Abstract:

This paper describes the design and the design solution of an extension for measurement of an absolute reflectance using Perkin Elmer Lambda 45. This paper is divided into three parts. The first part deals with the basic theory of optics, knowledge of which is necessary for the proper function of the optical components used in the design. The second part provides an overview of configurations used in the practice to measure both the relative and the absolute reflectance. The last section includes the final design solution of the extension.

Keywords:

Perkin Elmer Lambda 45, spectrometer, absolute reflectance, thin films

Date of defence

26.06.2014

Result of the defence

Defended (thesis was successfully defended)

znamkaBznamka

Grading

B

Language of thesis

Czech

Faculty

Department

Study programme

Engineering (B2341-3)

Field of study

Mechanical Engineering (B-STI)

Composition of Committee

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda)
prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda)
prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen)
prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen)
prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen)
prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen)
prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen)
prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen)
RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)

Supervisor’s report
Ing. Jakub Klus, Ph.D.

Cílem předkládané bakalářské práce bylo navrhnout rozšíření stávajícího zařízení – spektrometru Perkin Elmer Lambda 45. Toto rozšíření mělo nejen umožňovat snadnou výměnu a uchycení vzorku, ale také měření jeho absolutní odrazivosti. Pro dosažení těchto cílů student musel nejprve rozšířit znalosti ze základního kurzu fyziky o základní principy optiky. Dále se student seznámil s uspořádáními, kterými lze měřit odrazivost vzorku. Na základě nabytých informací byla potom navržena výsledná sestava. Tato sestava splňuje cíle vytyčené v zadání, rovněž je vhodné podotknout, že navržený způsob měření patří mezi mechanicky nejkomplikovanější, a jeho zařazení do úzkého prostoru vyhrazeného v přístroji dokazuje studentovo nadání pro řešení problémů z inženýrské praxe. K trasování paprsků bylo nestandardně využito nástrojů programu Autodesk Inventor. Vzhledem k charakteru úlohy, kdy je potřeba ověřit pouze stínění svazku jednotlivými optickými komponentami, lze tento způsob považovat za adekvátní. Obsah a struktura bakalářské práce jsou vcelku logické a systematické, práce je psána přehledně a po grafické stránce je rovněž velmi zdařilá. Celkově lze konstatovat, že předložená práce splňuje po věcné i formální stránce požadavky kladené na tento druh prací a proto ji doporučuji k obhajobě.
Evaluation criteria Grade
Splnění požadavků a cílů zadání A
Postup a rozsah řešení, adekvátnost použitých metod B
Vlastní přínos a originalita A
Schopnost interpretovat dosažené vysledky a vyvozovat z nich závěry B
Využitelnost výsledků v praxi nebo teorii A
Logické uspořádání práce a formální náležitosti B
Grafická, stylistická úprava a pravopis A
Práce s literaturou včetně citací C
Samostatnost studenta při zpracování tématu A

Grade proposed by supervisor: B

Reviewer’s report
Ing. Martin Antoš, Ph.D.

V úvodních částech autor popisuje základní charakteristiky optických prostředí. Dále je uveden způsob interakce elektromagnetického záření při odraze a lomu na rozhraní dvou dielektrik.  Jsou představena optická uspořádání pro měření relativní a absolutní odrazivosti. Hlavní cíl práce je řešen v kapitolách 6, 7 a 8. Navržený nástavec umožňující měření absolutní odrazivosti vzorku v komerčním spektrometru vychází z V-N uspořádání. Změnou pozice dvou zrcadel v tomto uspořádání můžeme detekovat odražené i prošlé světelné spektrum, aniž bychom museli měnit polohu vzorku.
Grafická a stylistická úprava práce je velmi dobrá. U všech trojrozměrných vyobrazení chybí měřítka. Nesprávně je uveden vztah 4.2 na straně 19.
Student  dle zadání vytvořil 3D model nástavce do spektrometru Perkin Elmer Lambda 45. Výkresová dokumentace nebyla předložena. Domnívám se, že pro případné  praktické využití bude  nutné předložený návrh upravit. Především je zapotřebí korektně uložit vstupní a výstupní zrcadla a zvýšit tuhost a zjednodušit tvar rámu překlopného ramene. Rovněž uchycení držáku vzorku pomocí dvou kuželových čepů považuji za nevhodné. Není zaručena konstantní přítlačná síla při opakovaném vkládání držáku.
Z práce je zřejmé, že student Štěpán Šustek dokáže konstrukčně ztvárnit ideový návrh zařízení. Přes uvedené nedostatky hodnotím práci známkou dobře/C a doporučuji k obhajobě.
Evaluation criteria Grade
Splnění požadavků a cílů zadání C
Postup a rozsah řešení, adekvátnost použitých metod B
Vlastní přínos a originalita B
Schopnost interpretovat dosaž. vysledky a vyvozovat z nich závěry C
Využitelnost výsledků v praxi nebo teorii C
Logické uspořádání práce a formální náležitosti C
Grafická, stylistická úprava a pravopis B
Práce s literaturou včetně citací D
Topics for thesis defence:
  1. Umíte odvodit Snellův zákon?
  2. Jakým způsobem lze zajistit korektnost vazeb u tříbodového uložení?

Grade proposed by reviewer: C

Responsibility: Mgr. et Mgr. Hana Odstrčilová