Diplomová práce pojednává o problematice seřízení hexapólového korektoru sférické vady v elektronových mikroskopech. Zahrnuje teoretický popis elektronově optických systémů – vhodný popis pole, paraxiálních vlastností i aberací. Pro popis aberací si autor vybral metodu eikonálu, která je v tomto oboru nejpoužívanější. Zavedené metody pak používá pro výpočet optických vlastností standardního hexapólového korektoru, a to jak základních vlastností neporušeného korektoru, tak analýze vlivu špatného seřízení korektoru. Autor se omezuje na vliv nepřesného sestavení jednotlivých prvků korektoru (mimo osová poloha, náklon a případná rotace hexapólu) a elipticitu čoček. Metodu je však možné použít i na jiné druhy parazitických aberací, které v práci analyzované nejsou.  Autor dobře popsal vliv symetrie v korektoru a jeho použití při korekci parazitických aberací. Krátce byla také diskutována metoda korekce jednotlivých parazitických aberací a požadovaná přesnost jejich korekce pro zachování co nejlepšího rozlišení systému. Grafická úprava diplomové práce je na vysoké úrovni, bohužel jsou ale nepřehlédnutelné některé kostrbaté větné konstrukce a chyby v anglickém textu.

Autor v práci prokázal samostatnost při řešení dílčích problémů, ale také při zpracování tématu jako celku. Vhodně a zcela samostatně si zvolil nástroje a metody, které použil při řešení. Diplomová práce samozřejmě nemůže sloužit jako návod pro korekci systému s hexapólovým korektorem, ale může být dobrým základem, pro případné řešení takovéhoto problému v praxi. Hlavním nedostatkem při zpracování tématu byla práce s odbornou literaturou. Studiu vlivu parazitických aberací na hexapólový korektor se sice doposud nevěnovalo mnoho pozornosti, ale  popis základních vlastností  systému s korektorem a výpočtu jeho vlastností je součástí několika publikací. Autor však preferuje najití vlastní cesty, která je mnohdy paralelní k už zavedeným postupům. To se mimo jiné projevuje ve zcela originální notaci aberačních koeficientů, což bohužel mírně snižuje použitelnost výsledků této práce pro širší odbornou veřejnost.

Diplomová práce se zabývá analýzou vad seřízení hexapólového korektoru vad. Tento typ korektoru je velmi důležitý pro dosažení rozlišení mikroskopu pod 100 pm, případně pro práci s vyšší hodnotou proudu. Byla zvolena vhodná metoda výpočtu vad založená na eikonálu, který dovoluje snadnější diskusi požadavků symetrie a antisymetrie polí. V diskusi o korektoru se diplomant ale vyhýbá často uvažovanému problému s chováním celého systému včetně přenosových čoček, diskutuje jen samotné hexapóly a dvojici čoček mezi nimi. Uvažuje také tyto prvky zjednodušeně, a to hexapól s konstantní velikostí pole, a obě čočky pak jen jako čočky tenké. Také se vyhýbá diskusi, pro jaké typy mikroskopů (TEM, STEM) se uvažuje použití korektoru.
Práce je psána v angličtině s řadou chyb v pravopisu, vynechané určité a neurčité členy, nesprávné předložkové vazby, častá chybná shoda podmětu s přísudkem. Naštěstí tyto chyby nebrání pochopení textu. Pokud jde o styl, rušivé je nepoužívání interpunkce ve vzorcích, po kterých zpravidla následuje „Where…“ s velkým počátečním písmenem.
Lze konstatovat, že student se se složitou problematikou dokázal úspěšně poprat, analýza vad seřízení je zpracována přehledně. Vady seřízení jsou ilustrovány vhodnými obrázky. Vady a rozlišení jsou spočteny pro jednu numerickou hodnotu Cs=Cc=2,5 mm. Není diskutován rozdíl v použití korektoru v TEM a STEM systému a použití realistických polí pro určení vlastností korektoru. Topics for thesis defence:

1. Rozdíl v použití korektoru v TEM a STEM.
2. Jaké výhody má hexapólový korektor pro STEM proti kvadrupólovému-oktupólovému korektoru, který používá NION pro STEM?
3. Používá se kvadrupólový-oktupólový korektor i v TEMu? Jak se můžeme „zbavit“ vlivu chromatické aberace?
4. Jakou hodnotu Cs a Cc musíme mít, abychom dosáhli rozlišení pod 100 pm?