Course detail
Basics of Electron Microscopy
FEKT-MPC-ZEMAcad. year: 2022/2023
Not applicable.
Language of instruction
Czech
Number of ECTS credits
5
Mode of study
Not applicable.
Guarantor
Learning outcomes of the course unit
Not applicable.
Prerequisites
Not applicable.
Co-requisites
Not applicable.
Planned learning activities and teaching methods
Not applicable.
Assesment methods and criteria linked to learning outcomes
Not applicable.
Course curriculum
Not applicable.
Work placements
Not applicable.
Aims
Not applicable.
Specification of controlled education, way of implementation and compensation for absences
Not applicable.
Recommended optional programme components
Not applicable.
Prerequisites and corequisites
Not applicable.
Basic literature
DĚDEK, L, DĚDKOVÁ, J. Elektromagnetismus. Vysoké učení technické v Brně. Nakladatelství VUTIUM, 2000. ISBN 80-214-1106-6. (CS)
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 1985. Springer series in optical sciences, vol. 45. ISBN 3-540-13530-8. (CS)
REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy: physics of image formation and microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 1985. Springer series in optical sciences, vol. 45. ISBN 3-540-13530-8. (CS)
Recommended reading
Not applicable.
Elearning
eLearning: currently opened course
Classification of course in study plans
- Programme MPC-MEL Master's 2 year of study, summer semester, compulsory-optional
- Programme MPC-BIO Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-BTB Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-EAK Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-EEN Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-EKT Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-EVM Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-KAM Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPC-SVE Master's 0 year of study, summer semester, elective
- Programme MPAD-BIO Master's 0 year of study, summer semester, elective
Type of course unit
Lecture
26 hod., optionally
Teacher / Lecturer
Syllabus
1. Úvod do problematiky elektronové mikroskopie. Prozařovací mikroskopy. Rastrovací mikroskopy.
2. Teorie vakua. Základy vakuové techniky.
3. Vakuové měrky, vakuové a ultravakuové vývěvy.
4. Zdroje elektronů. Teplá emise, studená emise, Schottkyho emise.
5.Elektronová optika. Elektromagnetické čočky.
6.Numerická analýza elektromagnetických polí. Trasování nabitých částic.
7.Optické vady v elektronovém mikroskopu a jejich kompenzace.
8.Interakce elektronů s látkou.
9. Elektronové detektory.
10. Přesné mechanické manipulátory.
11.Příprava vzorků pro rastrovací a prozařovací eletronovou mikroskopii.
12. Speciální analýzy využívající elektronové mikroskopie. EDX, TOF-SIMS, CL, Ramanova spekroskopie.
13. Shrnutí, opakování.
2. Teorie vakua. Základy vakuové techniky.
3. Vakuové měrky, vakuové a ultravakuové vývěvy.
4. Zdroje elektronů. Teplá emise, studená emise, Schottkyho emise.
5.Elektronová optika. Elektromagnetické čočky.
6.Numerická analýza elektromagnetických polí. Trasování nabitých částic.
7.Optické vady v elektronovém mikroskopu a jejich kompenzace.
8.Interakce elektronů s látkou.
9. Elektronové detektory.
10. Přesné mechanické manipulátory.
11.Příprava vzorků pro rastrovací a prozařovací eletronovou mikroskopii.
12. Speciální analýzy využívající elektronové mikroskopie. EDX, TOF-SIMS, CL, Ramanova spekroskopie.
13. Shrnutí, opakování.
Exercise in computer lab
24 hod., compulsory
Teacher / Lecturer
Syllabus
1. Úvod do problematiky elektronové mikroskopie. Prozařovací mikroskopy. Rastrovací mikroskopy.
2. Teorie vakua. Základy vakuové techniky.
3. Vakuové měrky, vakuové a ultravakuové vývěvy.
4. Zdroje elektronů. Teplá emise, studená emise, Schottkyho emise.
5.Elektronová optika. Elektromagnetické čočky.
6.Numerická analýza elektromagnetických polí. Trasování nabitých částic.
7.Optické vady v elektronovém mikroskopu a jejich kompenzace.
8.Interakce elektronů s látkou.
9. Elektronové detektory.
10. Přesné mechanické manipulátory.
11.Příprava vzorků pro rastrovací a prozařovací eletronovou mikroskopii.
12. Speciální analýzy využívající elektronové mikroskopie. EDX, TOF-SIMS, CL, Ramanova spekroskopie.
2. Teorie vakua. Základy vakuové techniky.
3. Vakuové měrky, vakuové a ultravakuové vývěvy.
4. Zdroje elektronů. Teplá emise, studená emise, Schottkyho emise.
5.Elektronová optika. Elektromagnetické čočky.
6.Numerická analýza elektromagnetických polí. Trasování nabitých částic.
7.Optické vady v elektronovém mikroskopu a jejich kompenzace.
8.Interakce elektronů s látkou.
9. Elektronové detektory.
10. Přesné mechanické manipulátory.
11.Příprava vzorků pro rastrovací a prozařovací eletronovou mikroskopii.
12. Speciální analýzy využívající elektronové mikroskopie. EDX, TOF-SIMS, CL, Ramanova spekroskopie.
Field trip
2 hod., optionally
Teacher / Lecturer
Syllabus
Exkurze do firmy Tescan
Elearning
eLearning: currently opened course