Publication result detail

Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM

VYROUBAL, P.

Original Title

Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM

English Title

Using computer aided enineering for analyse the detector

Type

Paper in proceedings (conference paper)

Original Abstract

Tento článek se zabývá porovnáním a vyhodnocením vlivu tvaru Lavalovy dýzy v clonkách scintilačního detektoru na výsledný tlak na dráze sekundárních elektronů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu s využitím CAE a CAD systémů.

English abstract

This article deals with the comparison and evaluation of the influence shape Laval nozzle in screening secondary detector to the resulting pressure and gas flow on the lane at the secondary electron scintillation detector for Environmental scanning electron microscope with using Computer Aided Design and Computer Aided Engineering.

Key words in English

EREM, CAD, CAE, electron microscope, scintillation detector, environmentally scanning electron microscope, Lavals nozzle, SolidWorks, gas flow

Authors

VYROUBAL, P.

RIV year

2012

Released

24.10.2011

Location

Plzeň

ISBN

978-80-261-0016-4

Book

Elektrotechnika a informatika 2011

Pages from

157

Pages to

160

Pages count

4

BibTex

@inproceedings{BUT74404,
  author="Petr {Vyroubal}",
  title="Užití systémů CAE k analýze detektoru sekundárních elektronů pro EREM",
  booktitle="Elektrotechnika a informatika 2011",
  year="2011",
  number="1",
  pages="157--160",
  address="Plzeň",
  isbn="978-80-261-0016-4"
}