Automatizovaný systém měření mezních křivek blikání světelných zdrojů

Automated system for measurement of lamps flicker curves

Functioning sample

Automatizovaný systém měření mezních křivek blikání světelných zdrojů je vzájemně provázaná sestava přístrojů, která zajišťuje generovaní rušivých kolísání napětí, napájení světelných zdrojů v testovacím prostoru rušivým napětím, měření průběhu světelného toku a jeho vyhodnocení. Systém je založen na bázi virtuální instrumentace. Hardwarová část systému se skládá z kontroléru NI-PXI s měřící kartou a generátorovou kartou, lineárního výkonového zesilovače napětí, kulového integrátoru kde je umístěn testovaný světelný zdroj a přesného fotočlánku. Softwarová část systému je skládá ze dvou virtuálních přístrojů. Jeden je součástí objektivního flikrmetru a druhý slouží ke generování kolísání napětí, měření mezních křivek a záznamu naměřených dat. Kolísání napětí může být vytvořeno jednak amplitudovou modulací sinusového, obdélníkového, trojúhelníkového nebo pilového průběhu, nebo superponováním meziharmonických složek do napájecího napětí. Systém nastavuje požadovaný kmitočet modulace (resp. meziharmonické složky napětí) a hloubku modulace (resp. amplitudu meziharmonické složky). Pomocí objektivního flikrmetru systém buď zaznamenává hodnotu krátkodobé míry vjemu blikání, nebo vyhledá takovou úroveň kolísání napětí, které odpovídá požadovaná krátkodobá míra vjemu blikání. Poté pokračuje na dalším kmitočtu kolísání podle předem zvoleného kroku. Takto postupuje systém zcela bezobslužně až do zvoleného maximálního kmitočtu a postupně vykresluje mezní křivku blikání.

The automated system for measurement of lamps flicker curves is composed of set of instruments subsequently ensuring generation of disturbing voltage variations, a light source (placed in a test chamber) supply and measurement of luminous flux and its processing. The system control is based on virtual instrumentation in LabView. Hardware of the system consists of a NI-PXI controller equipped by data acquisition and arbitrary waveform generation cards, linear power amplifier, Ulbricht's sphere as a test chamber with a lamp under test and of a photo-head connected to the data acquisition card. The system software is presented by two virtual instruments. The first of them is a light flickermeter and the second is used for generation of voltage variation, measurement evaluation and results record. The output voltage can be generated including sinusoidal/rectangular/triangular or saw amplitude modulation, or an interharmonic component. The system sets required modulation or interharmonic frequency and modulation depth or interharmonic magnitude. Using the light flickermeter there is subsequently measured and recorded corresponding short time flicker severity index, or modulation depth/interharmonic magnitude level is changed until the required Pst value measured by the light flickermeter is achieved. Then the measuring process continuous at a next modulation/interharmonic frequency according to scheduled table of frequencies.

Flicker curves of lamps, Test system, NI PXI, Voltage variation, Amplitude modulation, Phase modulation, Interharmonic components, LabView

Flicker curves of lamps, Test system, NI PXI, Voltage variation, Amplitude modulation, Phase modulation, Interharmonic components, LabView

Vysoké učení technické v Brně, FEKT, Ústav elektroenergetiky, laboratoř SA5.08, budova A, Technická 3082/12, 616 00 Brno, http://www.ueen.feec.vutbr.cz/cz/index.php/research-and-development/gacr-gp102-08-p582

only the provider uses the result

Use of the result by another entity is possible without acquiring a license (the result is not licensed)

http://www.ueen.feec.vutbr.cz/cz/index.php/research-and-development/gacr-gp102-08-p582