Product detail

Testovací čip pro měření nelineárních kondenzátorů modifikovanou metodou CBCM

Sutorý, T.

Product type

prototyp

Abstract

Testovací čip slouží k ověření modifikované metody CBCM sloužící k měření a charakterizaci nelineárních kondenzátorů. Naměřená data z 64 testovacích struktůr slouží k výzkumu nelineárních kondenzátorů a jejich linearizace.

Keywords

CBCM, nelineární kondenzátory, MOS kondenzátory, měření

Create date

1. 9. 2006

Location

Ústav radioelektroniky Purkyňova 118 612 00 Brno

Possibilities of use

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

Licence fee

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

www

Ústav radioelektroniky Purkyňova 118 612 00 Brno