Publication result detail

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P.

Original Title

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

English Title

Scanning near field optical local spectroscopy

Type

Peer-reviewed article not indexed in WoS or Scopus

Original Abstract

Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.

English abstract

Using of Scanning optical near-field microscopy for the investigation of local spectroscopic chareacterists of semiconductor interfaces is described.

Keywords

Rastrovací mikroskopie, optické blízké pole, spektroskopie, lokální měření

Key words in English

Scanning microscopy, optical near-field, spectroscopy, local measurement

Authors

LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P.

Released

17.09.1998

ISBN

1210-2717

Periodical

Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics

Volume

5

Number

3

State

Czech Republic

Pages from

215

Pages to

217

Pages count

3

BibTex

@article{BUT39014,
  author="Petr {Létal} and Jitka {Brüstlová} and Pavel {Dobis} and Lubomír {Grmela} and Pavel {Tománek}",
  title="Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli",
  journal="Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics",
  year="1998",
  volume="5",
  number="3",
  pages="215--217",
  issn="1210-2717"
}