Publication result detail

Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek

NOVOTNÝ, R.

Original Title

Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek

Type

Paper in proceedings (conference paper)

Original Abstract

Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.

English abstract

The article presents accelerated stress testing in the reliability assurance of the electronic devices.

Key words in English

accelerate tests, reliability, electronic devices, failure mechanisms

Authors

NOVOTNÝ, R.

Released

01.01.2000

Location

Brno

ISBN

80-214-1781-1

Book

20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT

Pages from

165

Pages count

6

BibTex

@inproceedings{BUT3859,
  author="Radovan {Novotný}",
  title="Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek",
  booktitle="20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT",
  year="2000",
  pages="6",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1781-1"
}