Product detail

Calibration sample for magnetic contrast in SEM

KOLÍBAL, M. URBÁNEK, M. DHANKHAR, M. VYSTAVĚL, T.

Product type

funkční vzorek

Abstract

Three samples for magnetic domain imaging, with the 15x(Pt/Co) multilayer patterned areas exhibiting out-of-plane magnetization.

Keywords

magnetic contrast, platinum/cobalt multilayer, Kerr microscopy, focused ion beam

Create date

31. 12. 2021

Location

Laboratoře CEITEC Nano, Purkyňova 123, Brno 61200

Possibilities of use

Výsledek je využíván vlastníkem

Licence fee

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www

VUT