Tester pro dynamické zkoušky spolehlivosti výkonových MOS buněk

Equipment for dynamical tests of reliability of MOS power cells

Functioning sample

Tester slouží pro experimentální testování spolehlivosti výkonových CMOS buněk při dynamickém pulzním buzení. Umožňuje budit buňku napětím a současně měření průběhů napětí na tranzistorovém stupni a signálu indikujícího interní teplotu čipu za pomoci vestavěného senzoru teploty. Ve spolupráci s automatizovaným měřícím pracovištěm a obslužným softwarem je dovoleno ovládat měřící proceduru a zajistit záznam všech dat spolu s vizuálním stavem degradace čipu díky mikroskopu s webkamerou. Přípravek pracuje s pouzdry DIP28 (poskytl ON Semiconductor BVBA, Oudenaarde) a jako takový dovoluje připojení k běžnému laboratornímu vybavení (není nutná speciální měřící karta) komunikujícímu pomocí GPIB.

The tester serves for experimental testing of reliability of power CMOS cells under conditions of pulse excitation. It allows to drive cell by voltage and measurement of signal levels at transistor stage and signal indicating internal temperature of the chip by the help of embedded temperature sensor simultaneously. There is allowed to provide control of measurement procedure and record of all values as well as visual status of degradation of the chip by external microscope and webcamera in cooperation with automatized measuring workplace and software utility. Tester is prepared for DIP28 IC packages (provided by ON Semiconductor BVBA, Oudenaarde) and allows to connect to any common laboratory equipment (special acquisition measuring card is not required) with GPIB communication protocol.

power cell, dynamic testing, CMOS, reliability

power cell, dynamic testing, CMOS, reliability

Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12, SD6.86

In order to use the result by another entity, it is always necessary to acquire a license

http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/produkty/2015/Sotner_powercell_tester_CZ.pdf