Publication result detail

Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure

ELHADIDY, H.; GRILL, R.; FRANC, J.; ŠIK, O.; MORAVEC, P.; SCHNEEWEISS, O.

Original Title

Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure

English Title

Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure

Type

WoS Article

Original Abstract

Byly měřeny proudové přechody u struktury Schottkyho struktury kov-polovodič-kov. Vytvořili jsme nový model objas ňující proudový přechod jakožrto důsledek migracie iontových defektů. Byly stanoveny hustoty donorů, akceptorů a difuzní koeficienty iontových příměsí. Model je ověřen měřenním změny odporu materiálu v čase. Byla zaznamenána velmi nízká tendence návratu rezistivity v čase.

English abstract

We measured current transients (TC) in Schottky M–S–M (Au–CdTe–Au) structure. We developed a new model to explain TC by electromigration of charged ion defects. The acceptor, donor densities and the diffusion coefficients of ions were extracted. The model is confirmed by measuring the depletion region resistance with time. There was very weak tendency of the sample resistivity to revert to initial conditions.

Keywords

Cdte, schottky contacts, electromigration

Key words in English

Cdte, Schottkyho kontakty, elektromigrace

Authors

ELHADIDY, H.; GRILL, R.; FRANC, J.; ŠIK, O.; MORAVEC, P.; SCHNEEWEISS, O.

RIV year

2016

Released

01.06.2015

Publisher

Elsevier

Location

Holland

ISBN

0167-2738

Periodical

SOLID STATE IONICS

Volume

277

Number

27

State

Kingdom of the Netherlands

Pages from

20

Pages to

25

Pages count

6

URL

http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167273815001836

BibTex

@article{BUT114374,
  author="Hassan {Elhadidy} and Roman {Grill} and Jan {Franc} and Ondřej {Šik} and Pavel {Moravec} and Oldřich {Schneeweiss}",
  title="Ion electromigration in CdTe Schottky Metal-Semiconductor-Metal Structure",
  journal="SOLID STATE IONICS",
  year="2015",
  volume="277",
  number="27",
  pages="20--25",
  doi="10.1016/j.ssi.2015.04.016",
  issn="0167-2738",
  url="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0167273815001836"
}