Result with impact on practice detail

Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu

GRMELA, L.

Original Title

Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu

English Title

Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu

Type

Summary research report

Original Abstract

VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

English abstract

VUT FEKT se dohodlo s firmou SCI CLL On Semiconductor na vývoji nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu. Součástí je návrh zařízení umožňující zjišťování a ověření parametrů pro několik vzorků současně.

Keywords

reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Key words in English

reliability parameter, temperature measurement, defect,localization states, agening

Authors

GRMELA, L.

RIV year

2014

Released

31.07.2012

Location

Brno

Pages from

1

Pages to

5

Pages count

5

BibTex

@misc{BUT105361,
  author="Lubomír {Grmela} and Robert {Macků} and Jiří {Majzner} and Miloš {Chvátal}",
  title="Souhrnná výzkumná zpráva k HS: Vývoj nedestruktivních metod zjišťování poruch ve speciálních polovodičových součástkách v širokém teplotním rozsahu",
  year="2012",
  pages="1--5",
  address="Brno",
  note="Summary research report"
}