Project detail

Center of electron and photonic optics

Duration: 1.1.2023 — 31.12.2028

Funding resources

Technologická agentura ČR - 2. veřejná soutěž: Program Národní centra kompetence

On the project

The Centre unifies all the key academic and industrial players in Czechia dealing with R&D and technology transfer in electron microscopy and lithography, optical microscopy and spectroscopy, laser and fiber technologies, optical and quantum metrology, ultraprecise optical manufacturing and sophisticated optical systems. Such a complementary synergy upgrades decades of partners’ experience and bilateral fruitful collaboration to a level where associated Czech research and industry approach worldwide leaders, create new positions and significantly increase added value of industrial production.

Keywords
electron microscopy; electron lithography; nanotechnology; quantum technology; optical microscopy; spectroscopy; optical sensors; biophotonics; laser nanometrology; fiber technology; optical manufacturing; lasers; optoelectronics

Mark

TN02000020

Default language

English

People responsible

Kolíbal Miroslav, prof. Ing., Ph.D. - principal person responsible
Čech Ondřej, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Dostál Zbyněk, Ing., Ph.D. - fellow researcher
Klapetek Petr, Mgr., Ph.D. - fellow researcher
Kolka Zdeněk, prof. Dr. Ing. - fellow researcher
Pořízka Pavel, doc. Ing., Ph.D. - fellow researcher
Uhlíř Vojtěch, Ing., Ph.D. - fellow researcher

Units

Central European Institute of Technology BUT
- responsible department (17.3.2022 - 17.3.2022)
Fabrication and Characteris. of Nanostr.
- responsible department (17.3.2022 - not assigned)
Advanced instrumentation and methods for material characterization
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)
Centre of Sensor, Information and Communication Systems
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)
Development of Methods for Analysis
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)
Experimental Biophotonics
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)
Fabrication and Characteris. of Nanostr.
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)
Faculty of Electrical Engineering and Communication
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)
Nanomagnetism and spintronics
- co-beneficiary (1.1.2023 - 31.12.2028)

Results

OČKOVIČ, A.; MÜLLEROVÁ, I.; WANDROL, P.; KOLÍBAL, M.: Utilization of secondary electron contrast for dopant analysis. URL: https://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2025-verified-technology-/. (Ověřená technologie)
Detail

Stravova, Z.; Klvac, O.; Bana, J.; Anothumakkool, B.; Zikmund, T.; Blazek, P.; Kaiser, J.; Kazda, T. Comprehensive study of rapid capacity fade in prismatic Li-ion cells with flexible Packaging (vol 14, 28546, 2024). Scientific Reports. BERLIN: NATURE PORTFOLIO, 2025. iss. 1, 2 p.
Detail

KOPŘIVOVÁ, H.; FEDRA, V.; BUDAY, J.; HOLUB, D.; ŠPERKA, P.; VRLÍKOVÁ, L.; BUCHTOVÁ, M.; POŘÍZKA, P.; KAISER, J. A comparative study of nanosecond laser wavelengths for improved LIBS analysis of soft tissues. JOURNAL OF ANALYTICAL ATOMIC SPECTROMETRY, 2026, vol. 41, iss. 5, p. 1663-1674.
Detail

KLVAČ, O.; TROCHTA, D.; NOVAK, L.; PRIECEL, P.; BORNHOFFT, M.; KAZDA, T.; LIU, Z. Tracking structural evolution in lithium-ion batteries via operando scanning electron microscopy. Energy Storage Materials, 2025, iss. 81, p. 1-9.
Detail

KOLÍBAL, M.; MUSÁLEK, T.; BUKVIŠOVÁ, K.; NOVÁK, L.: In-situ SEM reactor for synthesis of battery materials. URL: http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2023-in-situ-sem-reactor-for-synthesis-of-battery-materials/. (Funkční vzorek)
Detail

KAJNAR, P.; ŠPAČEK, M.; DOSTÁL, Z.: Flexibilní mechanismus pro polohování optických komponent . (Funkční vzorek)
Detail

ZLÁMAL, J.; SHÁNĚL, O.; KULIČ, M.: Magnetická čočka s nízkým zkreslením. (Funkční vzorek)
Detail

STAŇO, M.; FLAJŠMAN, L.; UHLÍŘ, V.: SEMPA calibration sample with in-plane magnetization. URL: https://magnetism.ceitec.cz/text/detail/167. (Funkční vzorek)
Detail

STAŇO, M.; UHLÍŘ, V.: SEMPA reference sample with 3D magnetization. URL: https://magnetism.ceitec.cz/text/detail/169. (Funkční vzorek)
Detail

BÁBOR, P.; POTOČEK, M.: Metodologie měření povrchové kontaminace I. (Ostatní)
Detail

KÉPEŠ, E.; VRÁBEL, J.; KAŇA, V.; ZÁDĚRA, A.; DE GIACOMO, A.; POŘÍZKA, P.; KAISER, J. Quantification of alloying elements in steel targets: The LIBS 2022 regression contest. SPECTROCHIMICA ACTA PART B-ATOMIC SPECTROSCOPY, 2023, vol. 206, iss. 106710, p. 1-20. ISSN: 0584-8547.
Detail

KOLKA, Z.; KUBÍČEK, M.; ČÍŽEK, M.; BIOLKOVÁ, V.; POSPÍŠIL, M.; BARCÍK, P. Systém pro přenos optických a radiových signálů se stabilizovaným zpožděním. Sborník příspěvků konfrence LASER 64. Třešť: Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i., 2024. s. 48.ISBN: 978-80-87441-35-0.
Detail

KUNDRÁT, V.; NOVÁK, L.; BUKVIŠOVÁ, K.; ZÁLEŠÁK, J.; KOLÍBALOVÁ, E.; ROSENTVEIG, R.; SREEDHARA, M.; SHALOM, H.; YADGAROV, L.; ZAK, A.; KOLÍBAL, M.; TENNE, R. Mechanism of WS2 Nanotube Formation Revealed by in Situ/ex Situ Imaging. ACS Nano, 2024, vol. 18, iss. 19, p. 12284-12294. ISSN: 1936-0851.
Detail

STRAVOVÁ, Z.; KLVAČ, O.; BÁŇA, J.; ANOTHUMAKKOOL, B.; ZIKMUND, T.; BLAŽEK, P.; KAISER, J.; KAZDA, T. Comprehensive Study of Rapid Capacity Fade in Prismatic Li-ion Cells with flexible packaging. Scientific Reports, 2024, vol. 14, iss. 1, p. 1-15. ISSN: 2045-2322.
Detail

KREPELKA, P.; DOSTÁL, Z.: Optimalizované nástroje pro objemovou akvizici cryo-FIB/SEM/FM vzorků připravených metodou HPF. (Funkční vzorek)
Detail

Pavlína Sikorová, Miroslav Šlouf, Tomáš Molnár, Vladislav Krzyžánek. Computational methods for automated center determination in electron diffraction patterns. Journal of Applied Crystallography, 2026, vol. 59, iss. 3, p. 845-857.
Detail

ČERVINKA, O.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; VENOS, Š.; LELEK, J.; ULEHLA, L.: Metapovrchová struktura umožňující polarizačně rozlišenou analýzu pokřivení optické vlnoplochy. (Funkční vzorek)
Detail

MAŇKA, T.; ŠILER, M.; LIŠKA, V.; ZEMÁNEK, P.; ŠERÝ, M.; BRZOBOHATÝ, O. Simulation of optomechanical interaction of levitated nanoparticle with photonic crystal micro cavity. OPTICS EXPRESS, 2024, vol. 32, iss. 5, p. 7185-7196. ISSN: 1094-4087.
Detail