Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Project detail
Duration: 15.05.2015 — 20.08.2016
Funding resources
Neveřejný sektor - Přímé kontrakty - smluvní výzkum, neveřejné zdroje- whole funder (2015-05-15 - 2016-08-20)
On the project
The models will cover following characteristics: 1.2.1 Impedance and ESR vs Frequency (AC characteristics) 1.2.2 Capacitance Change vs DC Voltage (DC Bias characteristic) 1.2.3 Capacitance Change vs Temperature (Temperature characteristic) 1.2.4 Temperature Rise vs Ripple Current (Ripple Current characteristic) 1.2.5 Capacitance Change vs AC Voltage (AC voltage characteristic)
Description in CzechModely budou pokrývat následující charakteristiky: 1.2.1 Impedance a seriový odpor vs. frekvence (AC charakteristiky) 1.2.2 Změna kapacity vs. DC napětí (DC Bias charakteristiky) 1.2.3 Změna kapacity vs. teplota (Teplotní charakteristiky) 1.2.4 Zvýšení teploty vs. AC proud (Ripple Current charakteristiky) 1.2.5 Změna kapacity vs. AC napětí (AC Voltage charakteristiky)
KeywordsMLCC, modeling
Key words in CzechMLCC, modelování
Mark
HS6255704600
Default language
English
People responsible
Holcman Vladimír, doc. Ing., Ph.D. - fellow researcherKuparowitz Tomáš, Ing., Ph.D. - fellow researcherMajzner Jiří, Ing., Ph.D. - fellow researcherSedlák Petr, doc. Ing., Ph.D. - fellow researcherSedláková Vlasta, doc. Ing., Ph.D. - principal person responsible
Units
Central European Institute of Technology BUT- (2015-05-15 - 2016-08-20)Department of Physics- (2015-05-15 - 2016-08-20)Optoelectronic Characterisation of Nanostructures- (2015-05-15 - 2016-08-20)
Results
SEDLÁKOVÁ, V.; ŠIKULA, J.; SEDLÁK, P.; MAJZNER, J.; KUPAROWITZ, T.; MÍVALT, F.; LANG, M.; OSTRÝ, L. Equivalent model for AVX MLCC - FINAL REPORT - STAGE II. 2016. p. 1-70.Detail
SEDLÁKOVÁ, V.; ŠIKULA, J.; SEDLÁK, P.; MAJZNER, J.; KUPAROWITZ, T.; MÍVALT, F.; LANG, M. Equivalent model for AVX MLCC - FINAL REPORT - STAGE I. 2015. p. 1-53.Detail