Projekt se zabývá tématikou zvýšení znalostí studentů v oblasti tenkých vrstev a měření jejich vlastností pomocí křemenných krystalových mikrovah QCM (Quartz Crystal Microbalance). Technikou QCM lze měřit hmotnostní změny zkoumané vrstvy, čehož se využívá například při technologiích galvanického pokovení a dále při naprašování nebo napařování. Lze takto velmi efektivně sledovat průběh těchto technologických postupů a to v reálném čase. Další možné využití této technologie je v bioaplikacích jako biosensoru. Pracoviště bude sloužit pro výuku v předmětech Výrobní procesy a Materiály pro biomedicíncké aplikace.

Keywords
EQCM, tenké vrstvy, galvanické nanášení

2377/G 1

Czech

Knotek Tomáš, Ing. - principal person responsible
Kazelle Jiří, prof. Ing., CSc. - fellow researcher
Špičák Petr, Ing., Ph.D. - fellow researcher

Department of Electrical and Electronic Technology
- responsible department (1.1.2010 - not assigned)
Department of Electrical and Electronic Technology
- beneficiary (1.1.2010 - not assigned)

Responsibility: Knotek Tomáš, Ing.