Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Applied result detail
DRÁPELA, J.; ŠLEZINGR, J.
Original Title
Objektivní měřič blikání
English Title
Light flickermeter
Type
Functioning sample
Abstract
Objektivní flikrmetr je měřicí přístroj simulující odezvu průměrného pozorovatele na rušivé blikání světla za specifických pozorovacích podmínek. Jedná se o ojedinělý přístroj svou konstrukcí vycházející z konstrukce standardizovaného UIE/IEC flikrmetru (měřiče blikání), kdy je z měřícího řetězce odstraněna odezva referenční žárovky. To znamená, že výstup objektivního měřiče blikání není závislý na typu světelného zdroje, který blikající světlo produkuje. Vyvinutý přístroj měří kolísání a změny velikosti světla s využití vhodného hardwaru a zpracování signálu. Světlo je snímáno fotodiodou s fotopickým korekčním filtrem a s vestavěným transimpedančním zesilovačem s nastavitelným zesílením a šířkou pásma přenosové funkce. Následné zpracování signálu je založeno na měřící platformě NI PXI (nebo cDAQ, cRIO) s odpovídající měřící kartou a virtuální instrumentaci v prostředí LabVIEW. pro měření intenzity osvětlení v širokém frekvenčním rozsahu. Pro účely verifikace funkce objektivního flikrmetru a jeho kalibraci byl dále realizován kalibrační systém.
Abstract in English
The light-flickermeter is an instrument simulating response of the average observer on disturbing light flicker under specific conditions. The design of the light-flickermeter is based on digitized the standard UIE/IEC flickermeter measuring scheme where the measuring chain does not include model of the reference incandescent bulb. It means that this type of flickermeter output is expected to be independent on a light source type producing light flicker. The developed instrument evaluates measured luminous flux fluctuation utilizing appropriate hardware and signal processing. The light is sensed by a photodiode with build-in transimpedance amplifier and photopic correction light-filter. The amplifier RC feedback allows control of its transfer function gain and bandwidth. Then the subsequent signal processing is based on NI PXI (cDAQ or cRIO) platform and virtual instrumentation in LabView. For purpose of the flickermeter verification and calibration, a test system composed of a SW designed in LabView, NI PXI arbitrary waveform generation board, a power amplifier and a lamp placed in a test chamber, allowing generation of testing signals, has been developed and its calibration has been performed.
Keywords
Light flickermeter, Objective flickermeter, Virtual instrumentation, LabView
Key words in English
Location
Vysoké učení technické v Brně, FEKT, Ústav elektroenergetiky, laboratoř SA5.08, budova A, Technická 3082/12, 616 00 Brno, http://www.ueen.feec.vutbr.cz/cz/index.php/research-and-development/gacr-gp102-08-p582
Possibilities of use
only the provider uses the result
Licence fee
Use of the result by another entity is possible without acquiring a license (the result is not licensed)
www
http://www.ueen.feec.vutbr.cz/cz/index.php/research-and-development/gacr-gp102-08-p582