Applied result detail

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

VAVŘÍK, I.; HOLUB, M.; BLECHA, P.; BRADÁČ, F.; KARPÍŠEK, Z.

Original Title

Vývoj metodiky a etalonů na zkoušení přesnosti souřadnicových měřicích strojů s optickým snímacím systémem a optických souřadnicových měřicích strojů. Projekt číslo 4.2 PT 01/013

English Title

Development of methodology and etalons for acuracy testing of CMM with optic scanning head and optic CMM Project number 4.2 PT 01/013

Type

Verified technology

Abstract

Zajištění a prokázání metrologické návaznosti CMM s optickými snímacími systémy a optických CMM prostřednictvím vývoje vhodného systému zkoušení přesnosti složeného z hmotných etalonů rozměru (zkušební tělesa), metodiky pro vyhodnocování zkoušek přesnosti a stochastického modelování.

Abstract in English

Determining and proving metrologic links between CMM and optical scanning systems and optical CMM by developing a suitable precision testing system consisting of dimension mass standards (testing bodies), methodology of precision testing evaluation, and stochastic modelling.

Keywords

CMM, optical scanning, etalon, philosophy, stochastic modeling

Key words in English

CMM, optical scanning, etalon, philosophy, stochastic modeling

Location

ÚVSSR ZL - SERVIS, s.r.o.

Possibilities of use

only the provider uses the result

Licence fee

In order to use the result by another entity, it is always necessary to acquire a license