Publication detail

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

TICHOPÁDEK, P.

Original Title

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

English Title

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů

English abstract

In-situ ellipsometry of surfaces and thin films

Key words in English

Ellipsometry

Authors

TICHOPÁDEK, P.

RIV year

2001

Released

5. 12. 2000

Publisher

Vutium

Location

Brno

Pages from

329

Pages to

332

Pages count

4

BibTex

@inproceedings{BUT4506,
  author="Petr {Tichopádek}",
  title="In-situ elipsometrie tenkých vrstev a povrchů",
  booktitle="II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI",
  year="2000",
  pages="4",
  publisher="Vutium",
  address="Brno"
}