Patent detail

Interferometrický systém a způsob měření prostorového rozložení indexu lomu

KOLMAN, P. CHMELÍK, R.

Patent type

Patent

Abstract

Způsob měření prostorového rozložení indexu lomu je vhodný k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků.

Keywords

fluorescence, interferometrie, tomografie, fluorescenční koherenční tomografie

Patent number

306015

Date of registration

11.05.2016

Owner

Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ

www

Documents